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菲希爾熒光測厚儀XULM240信息
點擊次數(shù):70 更新時間:2025-04-23

菲希爾熒光測厚儀XULM240

XULM適合測量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管,測量點可達約100μm,同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數(shù)率。即使很短的測量時間也可以達到很好的重復(fù)精度。此外,XULM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造*佳的激勵條件。

德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀應(yīng)用實例:

XULM特別適合測量細小的部件如連接器,觸點或線,也可以測量印刷線路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為?0.25mm的準直器測量,20秒的重復(fù)精度可達2.5nm。


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